Pesquisadora da UFRJ apresenta seminário sobre microtomografia por contraste de fase no IQSC-USP

Encontro integra disciplina de pós-graduação e aborda técnicas avançadas de caracterização de materiais

O Instituto de Química de São Carlos (IQSC) da USP recebe, na próxima quinta-feira, 6 de novembro, a pesquisadora Alessandra Maia Marques Martinez Perez, do Instituto de Física da Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ).

A convidada ministrará o seminário “Microtomografia por contraste de fase: análise tridimensional de alta resolução”, aberto a todos os interessados. Segundo a pesquisadora, “o contraste de fase surge a partir da refração dos raios X ao atravessar objetos. Esse mecanismo permite obter imagens de resolução espacial submicrométrica, inclusive em três dimensões”.

A microtomografia por contraste de fase é uma técnica de imagem que possibilita visualizar detalhes internos de materiais e tecidos com muito mais precisão do que os exames de raios X convencionais. Em vez de mostrar apenas diferenças de densidade, como ocorre nas radiografias comuns, ela revela variações sutis na estrutura interna dos objetos, permitindo enxergar camadas, poros e interfaces com altíssima nitidez – algo essencial em pesquisas que buscam compreender a composição e o comportamento de materiais, desde metais e cerâmicas até amostras biológicas.

O evento integra as atividades da disciplina de pós-graduação “SQF5867 – Tópicos Avançados em Caracterização de Materiais Sólidos e suas Aplicações”, oferecida neste semestre pelos professores Bianca Chieregato Maniglia e Danilo Manzani. A disciplina aborda técnicas de caracterização física, química e óptica de materiais, promovendo a correlação entre estrutura e propriedades para aplicações em diversas áreas da química de materiais sólidos.

Alessandra Perez é docente do Instituto de Física da UFRJ e atua na área de Física Médica, com ênfase em Radiodiagnóstico. Sua pesquisa envolve imagens de raios X por contraste de fase, microtomografia, mamografia digital, qualidade de imagem, otimização técnica e caracterização de sistemas de imagem por raios X.

O seminário conta com o apoio da Comissão de Pós-Graduação do IQSC, presidida pelo professor Éder Tadeu Gomes Cavalheiro.

Inscrições: no site do IQSC .
Será fornecido certificado aos participantes.

por Sandra Zambon/Comunicação IQSC

Texto elaborado com apoio parcial da ferramenta ChatGPT, sob revisão e edição humana.

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