Dia 13 de abril, às 16h30
Diversas técnicas permitem investigar como átomos e elétrons estão organizados no interior dos materiais. No entanto, diversos fenômenos e propriedades físicas importantes são características específicas das superfícies e interfaces [regiões de contato entre materiais]. Por isso, técnicas específicas são necessárias para estudar e obter uma melhor compreensão do material. Uma das técnicas mais conhecidas e utilizadas mundialmente é a espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS).
O pesquisador Abner Siervo , do Instituto de Física Gleb Wataghin da Universidade Estadual de Campinas, desenvolve estudos nessa área e estará no Instituto de Química de São Carlos (IQSC-USP) no dia 13 de abril de 2026, às 16h30, proferindo o seminário Espectroscopia de Fotoeletrons Excitados por Raios X para Análise Química.
Segundo o pesquisador, “neste seminário, apresentarei uma visão geral dos fundamentos de XPS e alguns exemplos de sua aplicação prática na determinação da composição química de superfícies de diferentes materiais. Serão discutidos também as vantagens e limitações da técnica e a abordagem com diferentes aparatos experimentais”.
Coordenação: Prof. Dr. Ubirajara Pereira Rodrigues Filho
O evento é aberto aos interessados gratuitamente e acontecerá no anfiteatro “Prof. Milan Trsic” (edifício Q1).
Inscrições: clique aqui
Será emitido certificado aos participantes inscritos.